Štátna vedecká knižnica v Košiciach - Hlavná 10, 042 30 Košice, tel. +421918245888, e-mail: svkk@svkk.sk Preskočiť na obsah Zabudol som heslo
VuFind
  • 0 položky (Plný)
  • Registrácia
  • Odhlásiť
  • Prihlásiť
  • Študovňa
    • Študovňa kníh
    • Americké centrum
    • Študovňa periodík
    • Nemecká knižnica
    • Hala služieb
    • Regionálna lieratúra
    • Historické fondy
  • Digitálna zbierka
    • Knihy
    • Noviny
    • E-knihy
    • Platne, CD
  • Jazyk
    • Slovenčina
    • English
Pokročilý
  • Channels
  • Spectroscopic methods for optical analysis of thin films /
Vyhľadať ďalšie pohľady:

Podobné jednotky: Spectroscopic methods for optical analysis of thin films /

Optics of thin films : an optical multilayer theory /

Optical studies of rough surfaces and systems substrate - thin film with rough boundaries /

Optical and spectroscopic properties of glass /

Spectroscopic analysis of K type giants /

Solvent extraction in flame spectroscopic analysis /

Physics of thin films /

Problems of Thin Films /

Physics of Thin Films /

Physics of thin films /

Optical studies of rough surfaces and systems substrate : thin films with rough boundaries /

Thin Film Physics.

Thin-film MIS structures /

The relation of thin films to corrosion.

Handbook of thin film technology

Hard carbon thin films /

Photometric and spectroscopic studies 1 Photometric solution of TX UMa 2 Synthetic molecular spectrum of C2

Electrical conduction in thin metal films /

Vacuum Technology, Thin Films, and Sputtering, An Introduction

Evaluation of chemically degraded wood and cellulose using the spectroscopic methods : [scientific monography] /

Physics of thin films : proceesings of 1st National Autumn School, Szczyrk, Oktober 19th-25th, 1979 /

Autor: Ohlídal, Ivan, 1945-

Optical studies of rough surfaces and systems substrate : thin films with rough boundaries /

Spectroscopic methods for optical analysis of thin films /

Autor: Navrátil, Karel

Fyzikální měření /

Spectroscopic methods for optical analysis of thin films /

Optical studies of rough surfaces and systems substrate - thin film with rough boundaries /

Fyzikální měření. I. /


Možnosti vyhľadávania

  • História vyhľadávaní
  • Pokročilé vyhľadávania

Objavte viac

  • Prechádzanie katalógu
  • Abecedné prechádzanie
  • Grafické prechádzanie katalógu
  • Nové tituly v katalógu

Viac katalógov

  • Historické fondy
  • Bibliografia
  • Online menný lístkový katalóg

Hľadáte pomoc?

  • Tipy pre vyhľadávanie
  • Často kladené otázky