Proceedings of 14th solid state surfaces and interfaces : (extended abstract book) : November 18.-20.2024, Smolenice Castle, Slovak Republic /
Fyzikálne základy mikro/opto elektroniky 3 : vysokoškolská učebnica /
Characterization of Solid Surfaces /
Handbook of surface and interface analysis : methods for problem-solving /
Impact surface treatment /
Surface mechanics /
Vysokofrekvenční dielektrická souprava pro desénování : DSD 20.
Fyzika. III., Vybrané kapitoly zo základov elektronických prvkov, obvodov a systémov /
Engineer's guide to high-temperature superconductivity. /
Povrchové inžinierstvo /
Surfint - Sren VII : extended abstract book : November 22 - 24, 2021 : online conference /
SURFINT-SREN VIII : progress in applied surface, interface and thin film science solar renewable energy news 2023 : extended abstract book : November 20-22, 2023 /
Supravodivosť. /
Technológie prípravy a hodnotenie vlastností tenkých vrstiev : návody na cvičenia /
A geometric theory of conjugate tooth surfaces. /
STN EN 1969: 2002 (94 0519), Povrchy športových plôch. Stanovenie hrúbky syntetických športových povrchov.
Elektronika /
The solid-liquid interface /
Surface and Interface Effects in VLSI /
Surfaces and Interfaces of Glass and Ceramics /
Proceedings of 12th solid state surfaces and interfaces : (extended abstract book) : November 21.-23.2022, Slovak Republic /
Abrazívne a erozívne opotrebenie /
Tribológia povrchových vrstiev /
STN EN ISO 8502-6: 2021 (03 8224) Príprava oceľových podkladov pred aplikáciou náterových látok a podobných výrobkov. Skúšky na posudzovanie čistoty povrchu Časť 6 Extrakcia rozpustných nečistôt na analýzu (Breslova metóda) (ISO 8502-6: 2020)
Funkčné povrchy 2006 /
Funkčné povrchy v strojárstve 2007 v krajinách V4 : medzinárodný višegrádsky fond : [medzinárodná vedecká konferencia] : Trenčín, 27.-28. 6. 2007 /
Výskum farby a zloženia povrchu dreva ožarovaného CO2 laserom : [vedecká monografia] /
Geometrická a prístrojová optika. : Učebnica pre stredné zdravotnícke školy. /
Zariadenie na meranie hĺbkového profilu fotoluminiscenčného signálu v tenkovrstvových polovodičových štruktúrach /