Analiza defektów w cienkich polikrystalicznych warstwach diamentowych otrzymywanych metodami CVD. /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Fabisiak, Kazimierz (Author)
Format: Book
Language:Polish
Published: Toruä : Wydawnictwo Uniwersytetu Mikoaja Kopernika, 1994
Edition:1. vyd.
Subjects:
ISBN: 8323105294 (brož.)
Physical Description: 102 s.
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!