STN ISO 6428: 1999 (01 3100), Technické výkresy. Mikrografické požiadavky.
Táto norma obsahuje ISO 6428: 1982
Uložené v:
| Ďalší autori: | , , |
|---|---|
| Médium: | Norma |
| Jazyk: | Slovak English |
| Vydané: |
Bratislava :
Úrad pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo SR,
1999.
|
| Témy: | |
| Fyzický popis: |
8 s. |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!
|
Titul je dostupný aj v ... 
| Zhrnutie: | Táto norma obsahuje ISO 6428: 1982 |
|---|---|
| Popis jednotky: | Spracovateľ: Igor Barysz, Ladislav Čillík, Drahomíra Sekerešová. Technická normalizačná komisia: TNK 62 Technické výkresy |
| Fyzický popis: | 8 s. |