STN ISO 6428: 1999 (01 3100), Technické výkresy. Mikrografické požiadavky. - Barysz, Igor; Čillík, Ladislav; Sekerešová, Drahomíra (Úrad pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo SR, 1999)
Táto norma obsahuje ISO 6428: 1982