STN ISO 6428: 1999 (01 3100), Technické výkresy. Mikrografické požiadavky. - Barysz, Igor; Čillík, Ladislav; Sekerešová, Drahomíra; Úrad pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo SR (Bratislava, Slovensko) Technická normalizačná komisia č. 62 Technické výkresy (Bratislava : Úrad pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo SR, 1999)
Táto norma obsahuje ISO 6428: 1982
Spracovateľ: Igor Barysz, Ladislav Čillík, Drahomíra Sekerešová. Technická normalizačná komisia: TNK 62 Technické výkresy
Keywords: normy