Computed electron micrographs and defact identification /
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Amsterdam ; London ; New York :
North-Holland Publication Comp.,
1973.
|
| Series: | Defects in crystalline solids
|
| Physical Description: |
400 strán. |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Titul je dostupný aj v ... 
Scan on demand from our collection - We do not copy Slovak Technical Standards (STN)
Objednať si môžete skeny článkov z časopisov, častí kníh (maximálne do 20% obsahu celého dokumentu) za účelom vzdelávania, výskumu a bádania v súlade so zákonom o ochrane autorských práv... čítajte ďalej
Email this
Celkový počet rezervácií:
0
| Status | Due Date | Barcode Call Number |
Location | Description Sort |
Notes |
|---|---|---|---|---|---|
| Absenčne Place a Hold |
2720687431 III.106007 |
Výpožičný pult Hlavná 10 |