VLSI fault modeling and testing techniques. /

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Zobrist, George W. (Adapter)
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydané: Norwood : Ablex Publishing Corporation, 1993
Vydanie:1. vyd.
Témy:
ISBN: 0893917818 (viaz.)
Fyzický popis: 199 s.
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!

LEADER 01139nam a2200349 a 4500
001 000023737
003 SVKK
005 19990614000000.0
008 950127s1993 xxu e engo
FMT
020 |a 0893917818 (viaz.) 
040 |a SVKKK  |b slo  |c SVKKK  |e AACR2 
041 0 |a eng 
044 |a xxu  |c US 
080 |a 621.37/.39.049.75  |2 1997 
245 0 0 |a VLSI fault modeling and testing techniques. /  |c Edit. George W. Zobrist 
250 |a 1. vyd. 
260 |a Norwood :  |b Ablex Publishing Corporation,  |c 1993 
300 |a 199 s. 
653 0 |a obvody integrované  |2 SVKKKPH 
653 0 |a testovanie  |2 SVKKKPH 
655 7 |a monografie  |2 SVKKKPH 
700 1 |a Zobrist, George W.  |4 adp 
910 |a svkkk 
919 |a 0-89391-781-8 
974 |a MI  |d 19950301 
974 |a PA  |d 19950301 
974 |a PA  |d 19990614 
998 |a BK 
Z30 1 |l SCK01  |l SCK01  |m BOOK  |1 SCKHL  |2 SK14  |b Sklad Pribinova prízemie  |3 IV.167377  |6 877952  |q 19950103  |5 23737-10  |8 20060125  |f 70  |s Absenčne  |h SCKND  |t 00000000  |u 0000  |w 000023737  |x 000010 
a02 0 |a 0893917818 (viaz.) 
090 |g SCKHL  |k Sklad Pribinova prízemie  |a IV.167377  |j 877952  |i 23737-10  |s Absenčne