STN ISO 6428: 1999 (01 3100), Technické výkresy. Mikrografické požiadavky.
Táto norma obsahuje ISO 6428: 1982
Saved in:
| Other Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Norma |
| Language: | Slovak English |
| Published: |
Bratislava :
Úrad pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo SR,
1999.
|
| Subjects: | |
| Physical Description: |
8 s. |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Titul je dostupný aj v ... 
Be the first to leave a comment!