Popis: Moderní spektrometrické metody měření tenkých vrstev

Podrobná bibliografia
Hlavný autor:	Švardala, Ludvík (Author)
Médium:	Článok
Jazyk:	Czech
Témy:	vrstvy povrchové tenké > merania > spektrometria röntgenová > spektrometria optická
ISBN:	80-86380-01-7
Zdroj:	1. Hutnícka analytika 2000 1. Český Těšín : Ing. Václav Helán - 2 Theta, 2000 1. 80-86380-01-7 1. S. 55-56

Popis
Bibliografia:	Res. čes.
ISBN:	80-86380-01-7