Článková bibliografia
- Pri Miklušovej väznici 1, 042 30 Košice, tel.: +421556222236, e-mail: svkk@svkk.sk
Preskočiť na obsah
Toggle navigation
VuFind
0
položky
(Plný)
Jazyk
Slovenčina
English
Všetky polia
Názov
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Tag
Hľadať
Pokročilý
Nanosvět - nová hranice metrol...
Žiadanka emailom
Vytlačiť
Exportovať záznam
Exportovať do RefWorks
Exportovať do EndNoteWeb
Exportovať do EndNote
Exportovať do MARC
Exportovať do MARCXML
Pridať do rešerše
Vybrať z rešerše
Trvalý odkaz
Nanosvět - nová hranice metrologie pro nanotechnologii
Podrobná bibliografia
Hlavný autor:
Mac Lay, B.
(Author)
Médium:
Článok
Jazyk:
Czech
Témy:
metrológia
nanotechnológia
Zdroj
:
1. Slévárenství 1. Roč. LXVI, č. 1-2 (2018), s. 76 1. 0037-6825
Popis
Bibliografický záznam
Popis
ISSN:
0037-6825
Podobné jednotky
Management metrologie přiměření posunů staveb
Autor: Kratochvíl, Jiří
Management metrologie při měření posunů staveb
Autor: Kratochvíl, Jiří
Fázy automatizácie a metrológie
Autor: Drastich, Miloš
Využití přesné průmyslové 3D metrologie ve slévárenství
Aby brzdou neboli priestory : Metrologické zabezpečenie výroby v podniku
Autor: Tiža, Michal
Zobraziť súvisiace pohľady