VLSI fault modeling and testing techniques. /

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Zobrist, George W. (Adapter)
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydané: Norwood : Ablex Publishing Corporation, 1993
Vydanie:1. vyd.
Témy:
ISBN: 0893917818 (viaz.)
Fyzický popis: 199 s.
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!