Wheat yield functions for analysis of land-use change in China. /
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydané: |
Laxenburg :
International Institute for Applied Systems Analysis,
2000
|
| Vydanie: | 1. vyd. |
| Témy: | |
| ISBN: |
(brož.) |
| Fyzický popis: |
S. 115-132. |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!
|
Titul je dostupný aj v ... 
Skenovanie dokumentov z fondu ŠVK - Slovenské technické normy (STN) nekopírujeme
Objednať si môžete skeny článkov z časopisov, častí kníh (maximálne do 20% obsahu celého dokumentu) za účelom vzdelávania, výskumu a bádania v súlade so zákonom o ochrane autorských práv... čítajte ďalej
Žiadanka na skenovanie
Celkový počet rezervácií:
0
| Status | Požičané do | Čiarový kód Signatúra |
Umiestnenie | Popis Zoradiť podľa |
Poznámky |
|---|---|---|---|---|---|
| Absenčne Požiadavka |
2720233311 IV.183187 |
Výpožičný pult Hlavná 10 |