Vacuum and surface analysis : proceedings... Shanghai 26-28 october 1985. vol. 1 /
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydané: |
Singapore ; New York ; Hong Kong :
World Scientific,
1988
|
| Vydanie: | 1st ed. |
| ISBN: |
9971504596 (viaz.) |
| Fyzický popis: |
364 s. |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!
|
Titul je dostupný aj v ... 
Skenovanie dokumentov z fondu ŠVK - Slovenské technické normy (STN) nekopírujeme
Objednať si môžete skeny článkov z časopisov, častí kníh (maximálne do 20% obsahu celého dokumentu) za účelom vzdelávania, výskumu a bádania v súlade so zákonom o ochrane autorských práv... čítajte ďalej
Žiadanka na skenovanie
Celkový počet rezervácií:
0
| Status | Požičané do | Čiarový kód Signatúra |
Umiestnenie | Popis Zoradiť podľa |
Poznámky |
|---|---|---|---|---|---|
| Absenčne Požiadavka |
2720627006 III.152538 |
Výpožičný pult Hlavná 10 |