Secondary ion mass spectrometry SIMS V. proceedings of the 5th international conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985 /
Uložené v:
| Ďalší autori: | |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydané: |
Berlin Heidelberg New York :
Springer-Verlag,
1986.
|
| Vydanie: | 1st ed. |
| Edícia: | Springer series in chemical physics
vol. 44 |
| ISBN: |
(viaz.) |
| Fyzický popis: |
561 s. : il. |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!
|
Titul je dostupný aj v ... 
| Fyzický popis: | 561 s. : il. |
|---|---|
| Bibliografia: | Bibliogr. na konci článkov |
| ISBN: | (viaz.) |