Secondary ion mass spectrometry SIMS V. proceedings of the 5th international conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985 /
Saved in:
| Other Authors: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Berlin Heidelberg New York :
Springer-Verlag,
1986.
|
| Edition: | 1st ed. |
| Series: | Springer series in chemical physics
vol. 44 |
| ISBN: |
(viaz.) |
| Physical Description: |
561 s. : il. |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Titul je dostupný aj v ... 
Scan on demand from our collection - We do not copy Slovak Technical Standards (STN)
Objednať si môžete skeny článkov z časopisov, častí kníh (maximálne do 20% obsahu celého dokumentu) za účelom vzdelávania, výskumu a bádania v súlade so zákonom o ochrane autorských práv... čítajte ďalej
Email this
Celkový počet rezervácií:
0
| Status | Due Date | Barcode Call Number |
Location | Description Sort |
Notes |
|---|---|---|---|---|---|
| Absenčne Place a Hold |
B262690 IV.135945 |
Výpožičný pult Hlavná 10 |