STN ISO 6428: 1999 (01 3100), Technické výkresy. Mikrografické požiadavky.

Táto norma obsahuje ISO 6428: 1982

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Ďalší autori: Barysz, Igor (Translator), Čillík, Ladislav (Translator), Sekerešová, Drahomíra (Translator)
Médium: Norma
Jazyk:Slovak
English
Vydané: Bratislava : Úrad pre normalizáciu, metrológiu a skúšobníctvo SR, 1999.
Témy:
Fyzický popis: 8 s.
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!