Zariadenie na meranie hĺbkového profilu fotoluminiscenčného signálu v tenkovrstvových polovodičových štruktúrach /
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Banská Bystrica :
Úrad priemyselného vlastníctva SR,
2019.
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://wbr.indprop.gov.sk/WebRegistre/Patent/Detail/95-2014 |
| Physical Description: |
6 strán. |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Titul je dostupný aj v ... 