Zariadenie na meranie hĺbkového profilu fotoluminiscenčného signálu v tenkovrstvových polovodičových štruktúrach /
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Médium: | Patent |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydané: |
Banská Bystrica :
Úrad priemyselného vlastníctva SR,
2019.
|
| Témy: | |
| On-line prístup: | https://wbr.indprop.gov.sk/WebRegistre/Patent/Detail/95-2014 |
| Fyzický popis: |
6 strán. |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!
|
Titul je dostupný aj v ... 