Spôsob detekcie polohy kryštalizačného frontu monokryštálov zafíru a detekčné zariadenie /

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavní autori: Hoč, Michal (Inventor), Kajan, Juraj (Inventor), Tarjányi, Norbert (Inventor), Medvedcký, Štefan (Inventor), Mikita, Miroslav (Inventor)
Korporatívny autor: CEIT, a. s. (Žilina, SK) (Patent holder)
Médium: Patent
Jazyk:Slovak
Vydané: Banská Bystrica : Úrad priemyselného vlastníctva SR, 2020.
Témy:
On-line prístup:https://wbr.indprop.gov.sk/WebRegistre/Patent/Detail/5019-2016
Fyzický popis: 7 strán.
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý kto otaguje tento záznam!

Internet

https://wbr.indprop.gov.sk/WebRegistre/Patent/Detail/5019-2016